金昌同轴真空馈通件
  • 金昌同轴真空馈通件
  • 金昌同轴真空馈通件
  • 金昌同轴真空馈通件

产品描述

温度范围零下180~550℃ 变温速度0~10℃/min,升降温线性可控 温度分辨率及稳定性± 0.1℃ 控温方式PID 温度传感器PT100 温度传感器数量2 致冷方式液氮(泵控制) 探针数量4(可增加) 探针材质紫铜镀金 测试通道4 载样台材质及尺寸银质,35*35mm(以实际尺寸为准) 冷热台尺寸160*150*29mm(以实际尺寸为准) 实验环境可抽真空,可充入保护气氛(氮气),配水冷接口
光学探针台是一种用于微观材料表征和测量的实验设备,广泛应用于物理、材料科学、半导体研究以及生物医学等领域。其主要功能是通过光学方式对样品进行分析,获取样品的光学性质和其他相关信息。
光学探针台通常具有以下几个主要组件:
1. **光源**:提供所需波长的光线,常用的光源有激光器、白光光源等。
2. **探针**:用于接触样品并进行光学测量,探针可以是单模或多模光纤,或者特定形状的光学元件。
3. **样品台**:用于固定样品位置,通常可以在多个方向上移动,以便进行定位。
4. **探测器**:用于接收从样品反射或透射回来的光信号,通常是光电二极管、CCD或CMOS相机等。
5. **控制系统**:用于控制光源、移动样品台以及数据采集和处理。
光学探针台的应用包括:
- **表面形貌的测量**:通过干涉、散射等方式进行表面粗糙度和形貌分析。
- **光学性质的表征**:测量折射率、透射率等光学参数。
- **材料的成分分析**:例如,通过拉曼光谱技术分析材料的化学成分。
此类设备的高分辨率和实时测量能力使其在科研和工业领域中有着重要的应用前景。
光学探针台是一种高精度的实验设备,主要用于表征材料的光学性能和研究微观结构。以下是光学探针台的主要特点:
1. **高精度定位**:光学探针台通常具备高精度的运动系统,能够在微米或纳米级别上进行样品定位,以确保实验结果的准确性。
2. **多功能性**:很多光学探针台可以支持多种测量方法,如反射、透射、荧光及拉曼光谱等,适用于不同的研究需求。
3. **环境控制**:有些光学探针台配备有温度、湿度、气氛等环境控制系统,能够在特定条件下进行实验,适应不同材料的测试要求。
4. **光学元件的集成**:探针台通常集成有高性能的光学元件,如透镜、滤光片和光源等,以提高光学测量的灵敏度和信噪比。
5. **图像采集与分析**:许多光学探针台具有图像采集功能,可以实时观察样品表面、形貌及其他特征,并与测量数据结合进行分析。
6. **模块化设计**:一些探针台是模块化的,可以根据实验需要进行升级和扩展,适应不同的研究需求。
7. **用户友好的操作界面**:现代的光学探针台通常配备友好的软件界面,使得用户可以轻松设置实验参数,进行数据采集和分析。
8. **适用性广**:广泛应用于半导体、材料科学、生物医学等领域,在基础研究和工业应用中都具有重要价值。
光学探针台因其高度和多功能性,被广泛用于科研与工业领域的光学测量与分析任务。
金昌同轴真空馈通件
探针台卡盘(probe station chuck)是用于半导体测试和材料研究的重要设备,其特点包括:
1. **高精度**:探针台卡盘通常具有高精度的定位能力,能够确保探针与测试样品之间的对接,从而提高测试的准确性。
2. **温控能力**:许多探针台卡盘配备有温度控制系统,可以在升温或降温的情况下进行测试,帮助研究人员观察材料在不同温度下的性能变化。
3. **真空功能**:某些探针台卡盘具有真空夹紧功能,可以确保样品在测试过程中固定稳定,减少外部干扰。
4. **兼容性强**:探针台卡盘通常设计为兼容多种类型的测试探针和测试仪器,方便用户进行不同类型的实验。
5. **灵活性**:探针台卡盘可以适应不同尺寸和形状的样品,提供多种夹持方式,以满足不同测试需求。
6. **性能**:针对信号测试的需求,一些探针台卡盘具备良好的性能,能够有效降低信号衰减和反射。
7. **用户友好的操作界面**:现代探针台常配备直观的控制系统,便于用户对设备进行调整和设置。
8. **耐用性**:探针台卡盘通常采用量材料制造,以确保设备的耐久性和稳定性,在复杂环境下也能长期使用。
综合以上特点,探针台卡盘在半导体测试、材料研究等领域中扮演着关键角色,极大地推动了相关技术的发展。
金昌同轴真空馈通件
高低温真空探针台是一种用于材料和半导体器件测试的设备,能够在极端温度和真空环境下进行电气特性测量。其主要功能包括:
1. **温度控制**:能够在广泛的温度范围内(通常从低于零度到几百度摄氏)控制样品的温度,便于研究材料在不同温度下的性能变化。
2. **真空环境**:提供低压真空环境,以减少气体分子对测量结果的影响,尤其是在材料表面或界面反应的研究中。
3. **电气测试**:可以连接测试仪器(如示波器、源测量单元等)进行电流、电压等电学特性的测量。
4. **多种探针配置**:可以灵活配置探针的数量和类型,以适应不同的实验需求,如单点探测或多点测量。
5. **样品放置**:支持多种类型的样品放置方式,如晶圆、薄膜、纳米结构等,以开展多样化的实验。
6. **数据采集与分析**:配合相关软件,可以进行实时数据采集和后续分析,帮助科研人员深入理解材料性能。
高低温真空探针台广泛应用于半导体、物理、材料科学等领域的研究和开发中,尤其是在新材料的开发和半导体器件的性能测试方面具有重要意义。
金昌同轴真空馈通件
探针台(Probe Station)是一种用于测试和分析微电子器件(如集成电路、传感器等)的设备。其主要特点包括:
1. **高精度定位**:探针台能够定位待测样品,通常配备精密机械手臂和高分辨率的光学显微镜。
2. **多样化探针**:探针台配备多种探针,可以用于不同类型的测试,如直流、交流或测试。
3. **温控能力**:许多探针台具备温度控制功能,可以在极低或极高的温度条件下进行测试,以模拟实际工作环境。
4. **可扩展性**:探针台通常可以与其他测试设备(如示波器、信号发生器)进行连接,实现更复杂的测试方案。
5. **软件控制**:现代探针台配备了计算机控制系统,可以通过软件进行操作,实时收集和分析测试数据。
6. **兼容性**:探针台可以处理多种尺寸和形状的样品,包括晶圆、芯片和其他微电子器件。
7. **环境监控**:一些探针台具有气候控制系统,可以在洁净室或受控环境中进行测试,确保测试结果的可靠性。
这些特点使得探针台在半导体开发、质量控制和研究等领域中扮演着重要角色。
微型高低温真空探针台主要用于材料科学、半导体器件、纳米技术等领域的研究和测试,其适用范围包括但不限于以下几个方面:
1. **半导体器件测试**:用于测量半导体材料和器件在高低温环境下的电学性质。
2. **材料分析**:能够分析不同材料在极端温度和真空条件下的性能变化,例如导电性、热导性等。
3. **纳米材料研究**:用于研究纳米材料在不同温度和环境下的行为,适合纳米电子学研究。
4. **物理和化学实验**:在物理和化学实验中,对样品进行高低温和真空下的测试和观察。
5. **生物材料测试**:能够测试生物材料在极端环境下的稳定性和性能变化。
6. **仪器研发**:在新型仪器和设备研发过程中,对材料的性能进行高低温测试。
综上所述,微型高低温真空探针台是一种多功能的实验设备,适用于多种研究领域,特别是在要求控制温度和气氛条件的实验中显得尤为重要。
http://www.lightbule-nano.com
产品推荐

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

您是第394600位访客

版权所有 ©2025-04-20 京ICP备2024095103号-1 北京浅蓝纳米科技发展有限责任公司 保留所有权利.

技术支持: 八方资源网 免责声明 管理员入口 网站地图